|
||||
Меню:
Главная
Форум
Литература: Программирование и ремонт Импульсные блоки питания Неисправности и замена Радиоэлектронная аппаратура Микросхема в ТА Рубрикатор ТА Кабельные линии Обмотки и изоляция Радиоаппаратура Гибкие диски часть 2 часть 3 часть 4 часть 5 Ремонт компьютера часть 2 Аналитика: Монтаж Справочник Электроника Мощные высокочастотные транзисторы 200 микросхем Полупроводники ч.1 Часть 2 Алгоритмические проблемы 500 микросхем 500 микросхем Сортировка и поиск Монады Передача сигнала Электроника Прием сигнала Телевидиние Проектирование Эвм Оптимизация Автомобильная электроника Поляковтрансиверы Форт Тензодатчик Силовые полевые транзисторы Распределение частот Резисторные и термопарные Оберон Открытые системы шифрования Удк |
[21] тивления менее 0.5 кОм говорит о повреждениях в ТДКС или схемы дополнительного источника напряжения В+, возможен также дефект электролитического конденсатора фильтра. На следующем этапе проверяют выходные выпрямители вторичных напряжений от ТДКС, для чего контролируют омметром сопротивление диодов, подключенных к обмоткам трансформатора и соответствующих электролитических конденсаторов, чтобы убедиться в отсутствии короткого замыкания в этах цепях. Входе проведенные проверок нет способа убедиться в исправности ТДКС без включения ВМ в рабочем режиме. Возможными неисправностями могут быть межвитковые замыкания в одной из обмоток или выход из строя высоковольтных выпрямительных диодов. Если нет полной уверенности в отсутствии неисправностей в ТДКС, а такое опасение может возникнуть если был поврежден транзистор и конструкция ИП не имеет хорошей защиты от перегрузок, при этом можно предположить что происходило длительное воздействие большого тока на первичную обмотку, в результате чего она могла быть перегрета и возникли короткозамкнутые витки, то желательно провести дополнительную проверку работоспособности ТДКС. Следует отметить, что при включении питания на схему после замены всех неисправных деталей, при наличии короткозамкнутых витков в ТДКС произойдет повторное повреждение ключевого транзистора, а информации о причине неисправности не добавится. Проверить ТДКС можно непосредственно в схеме пользуясь следующим приемом, основанным на том, что все токи и напряжения в схеме пропорциональны питающему напряжению В+, то есть принципиальное функционирование узла будет возможно даже при снижении его в несколько раз. Практически такую проверку осуществляют следующим образом. Отключают вывод питания ТДКС В+ от схем питания на печатной плате, разорвав соответствующую перемычку в этой цепи, или выпаяв, обычно имеющийся в цепи питания выходного каскада дроссель фильтра, затем подключают его к источнику питания с напряжением 12 - 24 В. Этим достигается эффект снижения во много раз рассеиваемой на транзисторе мощности, - она будет ниже допустимой даже при работе на ТДКС с короткозамкнутыми витками. Затем включают питание и осциллографом контролируют форму сигнала на коллекторе ключевого транзистора - она должна быть похожей на изображенную на рис. 24 справа, то есть, должны присутствовать импульсы обратного хода в виде узких положительных полуволн синусоиды. Если на рассматриваемой картине в промежутках между импульсами обратного хода присутствуют другие сигналы, напоминающие колебания, это свидетельствует о наличии короткозамкнутых витков в одной из обмоток ТДКС или недостаточном насыщении тока в базе ключевого транзистора. Несмотря на сильные в этом случае искажения сигналов можно, измеряя их амплитуду и полярность на всех обмотках осциллографом, восстановить коэффициенты трансформации в обмотках, что поможет в дальнейшем при подборе аналога для замены ТДКС. Замена ТДКС при наличии запасного не представляет сложности, но необходимо помнить, что после замены следует сделать контрольное измерение высокого напряжения, чтобы убедиться в отсутствии его превышения. , Подбор аналогов при замене ТДКС представляет большую сложность в случае ремонта ВМ типа VGA, SVGA, так как их параметры, такие как коэффициент трансформации обмотки высокого напряжения, величина собственной емкости обмоток, а также возможность работы на повышенных частотах, не позволяют найти даже похожий вариант из серии телевизионных. В случае ремонта ВМ типа CGA и EGA такой подбор в большинстве случаев возможен. При повреждении ключевого транзистора и последующей его замене, если отсутствует оригинальный, следует проявлять осторожность, особенно в случае ВМ, работающих на повышенных частотах строчной развертки. Подбор аналога при замене производят с учетом максимального импульсного напряжения на коллекторе, максимального тока коллектора и времени включения /выключения (предельной рабочей частоты), а также максимальной рассеиваемой мощности. После замены проверяют интенсивность разогрева радиатора ключевого транзистора и, если в течение 10 мин после включения в рабочем режиме температура будет выше нормальной (40 - 60 °С), то заменяют транзистор на другой, более подходящий. Естественно, это относится к случаю исправности всех деталей узла СР. Если Вы не уверены в отсутствии других, еще не проявившихся неисправностей в узле СР и других, например БП, УУ, можно несколько облегчить режим работы выходного каскада снижением амплитуды импульса обратного хода на коллекторе ключевого транзистора, подпаяв дополнительный конденсатор емкостью 2000 - 6000 пФ и высоким рабочим напряжением, в зависимости от типа ВМ, между его коллектором и эмиттером. Для схем на рис. 30 и 31 использовать такой прием нет смысла, так как аналогичный результат получается при изменении настройки соответствующих подстроенных резисторов. В любом случае такие приемы позволяют проводить поиск неисправностей в режиме близком к рабочему, что облегчает их нахождение наблюдением сигналов осциллографом и измерением напряжений вольтметром. Попутно следует отметить, что возможность работы силовых схем узла СР во многом определяется УУ и схемами защит. Для проведения проверки работоспособности в цепом узла СР можно временно блокировать некоторые сигналы, предварительно обеспечив вышеописанными методами выход из режимов перегрузки для силовых элементов. После обеспечения возможности принципиальной работы узла СР производится проверка остальных частей схем во всех допустимых для данной модели ВМ режимах совместно с компьютером. При этом проверяют работу схем защит, возможность переключения режимов работы и действие транзисторных ключей в схемах коррекции линейности, а также прохождение сигналов и элементы схем регулировки размера строк. Найденные при этом неисправности устраняют заменой соответствующих элементов, после чего производят восстановление схемы, т.е. снимают установленные во время проверки конденсаторы, устанавливают выпаянные перемычки и т.д. На окончательном этапе производят проверку действия всех органов управления на передней панели ВМ и регулировку необходимых подстроенных элементов на плате. Необходимым этапом проверки узла СР является контроль теплового режима ключевого транзистора, желательно в течение одного часа. В заключение следует кратко остановиться на работах по замене ЭЛТ. Такая необходимость возникает крайне редко, так как ЭЛТ представляет собой изделие, выполненное по технологии изготовления электровакуумных приборов и имеет высокую надежность. На практике очень редко бывают случаи потери эмиссии в электронных пушках даже после длительного срока эксплуатации. Однако такая необходимость все же встречается, например, в случае неосторожного обращения или механических повреждений. Замена ЭЛТ в случае установки той же марки не представляет сложности, но при наличии другого типа может вызвать большие трудности. Сложности обусловлены в большей степени отличием в параметрах применяемых отклоняющих систем, а именно, индуктивности катушек, необходимого количества ампер-витков и К.П.Д. системы. В последних моделях ВМ (с индексом LR, что означает Low Radiation) часто применяются ЭЛТ с ОС, имеющей высокий К.П.Д, что приводит к снижению мощности, потребляемой выходным каскадом СР. По этой причине замена такой ЭЛТ на более старый тип может привести к перегрузке ключевых элементов в выходном каскаде или недопустимой перегрузке ИП. Такая перегрузка может проявиться косвенно через повышение рабочей температуры силовых элементов из-за малых размеров радиаторов охлаждения, что приведет, например, к ухудшению надежности транзисторов вследствие снижения их предельных параметров с ростом температуры корпуса. Кроме того, потребуются изменения в цепях коррекции линейности, управления размером строк и уточнение величины емкости, определяющей длительность обратного хода. Из вышесказанного можно сделать вывод, что установка ЭЛТ другого типа не всегда может быть успешной и надо стремиться найти для замены оригинальную. |
Среды: Smalltalk80 MicroCap Local bus Bios Pci 12С ML Микроконтроллеры: Atmel Intel Holtek AVR MSP430 Microchip Книги: Емкостный датчик 500 схем для радиолюбителей часть 2 (4) Структура компьютерных программ Автоматическая коммутация Кондиционирование и вентиляция Ошибки при монтаже Схемы звуковоспроизведения Дроссели для питания Блоки питания Детекторы перемещения Теория электропривода Адаптивное управление Измерение параметров Печатная плата pcad pcb Физика цвета Управлении софтверными проектами Математический аппарат Битовые строки Микроконтроллер nios Команды управления выполнением программы Перехода от ahdl к vhdl Холодный спай Усилители hi-fi Электронные часы Сердечники из распылённого железа Анализ алгоритмов 8-разрядные КМОП Классификация МПК История Устройства автоматики Системы и сети Частотность Справочник микросхем Вторичного электропитания Типы видеомониторов Радиобиблиотека Электронные системы Бесконтекстный язык Управление техническими системами Монтаж печатных плат Работа с коммуникациями Создание библиотечного компонента Нейрокомпьютерная техника Parser Пи-регулятор ч.1 ПИ-регулятор ч.2 Обработка списков Интегральные схемы Шина ISAВ Шина PCI Прикладная криптография Нетематическое: Взрывной автогидролиз Нечеткая логика Бытовые установки (укр) Автоматизация проектирования Сбор и защита Дискретная математика Kb радиостанция Энергетика Ретро: Прием в автомобиле Управление шаговым двигателем Магнитная запись Ремонт микроволновки Дискретные системы часть 2 | ||